SNE3200M, 15nm çözünürlüğü ve 60,000x büyütme özelliği ile başlangıç seviyesi bir masa üstü taramalı elektron mikroskopu (SEM) modelidir. Yüzey bilgisi (SE) ve malzeme bilgisi görüntüleme (BSE) özellikleri ile, kalite kontrol, Ar&Ge ve eğitim amaçlı kullanımlara uygundur. 3-eksenli zemin hareketi ve mouse kontrolü ile kullanıcıya kullanım kolaylığı sağlamaktadır.

Elektron Sistemi Çözünürlük 15nm (30kV, SE Görüntüsü)
20nm (30kV, BSE Görüntüsü)
Büyütme 20x~60,000x
Detektör İkincil Elektron Görüntüsü (SE)
Geri saçılmış (Backscattered) Elektron Görüntüsü (BSE)
Zemin Sistemi Zemin Hareketi 3-eksenli Sistem (X, Y, R, Z, T – Manuel)
X, Y-ekseni : 35mm / R-ekseni : 360°
* Görüntü kayması : ±150μm
* CCD Kamera
* T-ekseni : 0 – 45˚ (Opsiyon)
Maksimum Numune ölçüsü 70 mm çap x 30 mm yükseklik
Görüntü Sistemi Otomasyon fonksiyonu Otomatik başlama, Otomatik fokus, Otomatik Stigmator, Otomatik Kontrast & Parlaklık
Görüntü Formatı  BMP, JPEG, PNG, TIFF
Vakum Sistemi Vakum modu Yüksek ve düşük vakum
Vakum Pompası Döner Pompa / Turbo Moleküler Pompa (Tam otomatik)
Boyutlar Ana Ünite 390(W)x380(D)x560(H)mm, 83kg
Kontrol Ünitesi 390(W)x325(D)x560(H)mm, 37kg
Döner Pompa 400(W)x160(D)x340(H)mm, 24kg