Taramalı elektron mikroskobu (SEM, scanning electron microscope), odaklanmış bir elektron demeti ile numune yüzeyini tarayarak görüntü elde eden bir elektron mikroskobu türüdür. Elektronlar numunedeki atomlarla etkileşerek numune yüzeyindeki topografi ve kompozisyon hakkında bilgiler içeren farklı sinyaller üretir. Elektron demeti raster tarama düzeni ile yüzeyi tarar ve demetin konumu, algılanan sinyalle eşleştirilerek görüntü oluşturulur.

1991 Yılında kurulmuş olan SEC, tecrübesi ve Ar&Ge olanakları ile SEM sistemleri alanında dünyanın önde gelen markalarından biri olmuştur. Alptek, SEC markasını Türkiye temsilcisi olarak tecrübeli teknik kadrosu ile hizmet vermektedir.